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    X射线荧光光谱仪

     


    设备名称 X射线荧光光谱仪 规格型号 PW4400
    设备尺寸 934×841×1480mm 生产商 荷兰帕纳科
    技术指标 1.       最大功率:4.0kW
    2.       X光管:超尖锐端窗陶瓷铑Rh靶 
    3.       铍窗厚度:75μm(可选50μm铍窗) 
    4.       样品照射方式:上照射
    5.       配置LiF200、PET、AX-06,GEIII,PX1等晶体
    6.       角度重现性:优于±0.0002°
    7.       定位方式:无齿轮磨损的一莫尔条纹测角仪,是目前世界上定位精度最高速度最快的一测角仪之一
    8.       流气正比计数器和闪烁计数器
    功能描述 1.       铁矿石,渣样除(C)以外的一各种元素成分分析
    2.       耐火材料→的一成分分析
    3.       镀锌板的一镀层厚度进行无损检测
    样品要求 粉末样品:样品重量10~20g,粉末过120目筛 检验周期 铁矿渣样:1个样品/30min
    耐火材料→:1个样品/1h
    块状样品:直径50mm,表面没有明显划痕 检验周期 镀锌板:1个样品/10min
     

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